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设备名称:白光干涉形貌测试系统
规格型号:
MSA400
生产厂家:
德国Polytech
工艺类别:
检测设备
所属单位:
微纳加工中心
最小预约时间:
30分钟
位 置:
微纳加工中心
用 途
主要用于半导体芯片缺陷检测。
技术指标
横向分辨率:0.75μm
纵向分辨率:<100nm级
测试系统纵向量程:50mm+400um
横向量程为x方向:100mm;y方向:75mm