生产条件
主要用于需要太阳光照射条件的半导体器件性能测试，如单晶硅、多晶硅、非晶薄膜、染料敏化、有机、III-V 族半导体等各种不同类型的太阳电池及其它光电器件。
光斑尺寸 ：50mm×50mm（2inch×2inch）；工作距离 ： 120mm±30；光准直角 ：
