生产条件
主要用于几纳米到一毫米的台阶高度测量,同时支持对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行二维(2D)和三维(3D)测量,扫描范围可达150毫米,无需拼接。
扫描水平方向连续扫描长度:150mm;扫描垂直方向长度:1mm;扫描垂直方向精度:4Å;最佳垂直方向测试距离:1μm;样品尺寸:6 inch,向下兼容,非规则样品。