低温强磁场扫描探针显微成像系统-中北大学微纳加工中心

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设备名称：低温强磁场扫描探针显微成像系统

用　　途
可用于样品的表面形貌、纳米尺度磁学结构的表征和分析。

技术指标
变温范围：1.8 K-300 K；温度稳定性：6 mK；最大磁场：9 T； XYZ扫描范围：50 μm × 50 μm×24 μm @300K，30μm×30μm×15 μm @ 4 K；三维位移器位移范围：5 mm x 5 mm x 5 mm；MFM相噪音 (RMS, 工作带宽1 kHz): < 0.5°； MFM信噪比（样品为商业化硬盘）> 20:1； NA消色差物镜：NA = 0.82, WD = 0.65 mm, 消色差范围：465-590 nm。