生产条件
主要用于高深宽比硅结构的刻蚀。
样品尺寸:4 inch, 向下兼容(需贴在4inch硅衬片上);基底刻蚀温度:0℃-20℃可调;刻蚀气体:C4F8、SF6、Ar、O2;可刻蚀材料包括:Si;刻蚀深宽比:50:1;刻蚀角度:90±1°;侧壁粗糙度:小于50nm。